轻便型β厚仪依据氪射线穿过薄膜资料时的削弱规则，运用数字和模仿电路进行运算，显现薄膜厚度。这种测厚仪可广泛应用于薄膜、纸张、橡胶、织物等资料的厚度丈量，对错触摸式丈量外表。与光电、电容、经外等测厚仪比较，有很多长处：体积小，耗电省，可交直流供电，便于带着运用，并且适于在各种不良环境下作业，对各种颜色、斑纹及复合资料均可运用。
　　该仪器备有台式、叉式和反射式三种探头供用户选用，既可用于质管部分实验室测验，又可用于各种出产现场在线接连监测。主要技术指标：
◆ 测厚规模：
a.     量程一：5 g/m2-200g/m2（密度为1g/m3的薄膜相当于5μm-200μm）；
b.     量程二：30 g/m2-1000g/m2（密度为1g/m3的薄膜相当于30μm-1mm）；
◆ 测厚精度：厚度≤20 g/m2时为±1g/m2 ，厚度＞20 g/m2时为±5％。